Application of a stacked elastically bent perferct Si monochromator with identical and different crystallographic planes for single crystal and powder neutron diffractometry

田中 伊知朗; Ahmed, F. U.*; 新村 信雄

Physica B; Condensed Matter, 283(4), p.295 - 298, 2000/06

https://doi.org/10.1016/S0921-4526(00)00317-3

X線に比べて中性子入射強度の大幅な不足が実験遂行上の大きな障害となっている現状を克服し、中性子を最大限に有効利用するために、当グループでは中性子回折用モノクロメータとして弾性湾曲完全結晶シリコン(EBP-Si)を用いてきた。今回発表する内容は、このEBP-Siの2種類の改良に成功したことの報告である。1つは同結晶面重ね合わせである。これを用いることで生体物質用中性子回折計(BIX-III)試料位置において、1.6倍の強度増を確認し、ruburedoxinタンパク質のデータが十分解析に耐える形で測定できた。2つ目は異結晶面重ね合わせによって2波長を同時に試料に当てた。Si粉末飼料及び有機化合物単結晶試料の測定において、別の波長からの反射を同時収集することにより、測定効率を向上させることができた。